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Descripción

Los espectrómetros de fluorescencia de rayos X dispersivos en energía EDX-7000 y EDX-8000 ofrecen un excelente rendimiento que se suma a las destacables características de un software de análisis simple.

Las principales característica de estos nuevos modelos son que están equipados con un detector semiconductor de alto rendimiento que no necesita nitrógeno líquido y ofrecen niveles de recuento y resolución que superan las expectativas por sobre los equipos existentes en el mercado.

Los nuevos modelos de la serie EDX no solo permiten reducir los costos operativos, con un fácil mantenimiento, sino que además ofrecen una sensibilidad, resolución, precisión y rendimiento superior y son capaces de manejar una amplia gama de aplicaciones, independientemente de la industria.

Desde el análisis de detección de control de calidad para el cumplimiento con las directivas RoHS/ELV hasta los requisitos más sofisticados para el análisis de materiales generales en aplicaciones de investigación.

Alta sensibilidad, alta velocidad y alta resolución

El detector SDD de alto rendimiento y su hardware optimizado logran un altísimo nivel de rendimiento nunca antes alcanzado.

Gran Cámara de muestra

A pesar de su cuerpo compacto puede aceptar muestras de gran tamaño y de múltiples tamaños. Además, la cámara de observación de muestras y el colimador permiten análisis de muestras pequeñas.

Fácil de Usar

El Software PCEDX-Navi permite una fácil operación desde el principio y muestra informes con un solo clic del mouse.

Múltiples aplicaciones

Química

  • Análisis de productos y materiales orgánicos e inorgánicos
  • Análisis de catalizadores, pigmentos, pinturas, cauchos y plásticos

Medioambiente

  • Análisis de suelos, efluentes, cenizas, filtros y partículas finas

Farmacéutica

  • Análisis de catalizadores residuales de la síntesis
  • Análisis de impurezas y contenido extraño en ingredientes farmacéuticos activos

Agricultura y alimentos

  • Análisis de suelos, fertilizantes y plantas
  • Análisis de materias primas, control de elementos añadidos, y análisis de sustancias extrañas en alimentos

Materiales eléctricos y electrónicos

  • Monitoreo de halógenos y RoHS
  • Análisis de capa fina en semiconductores, discos, cristales líquidos y células solares

Automóviles y maquinaria

  • Monitoreo de elementos peligrosos ELV
  • Análisis de composición, medición de espesor de laminado, y medición de peso de films creados por recubrimiento de conversion química (fosfatado, anodizado, etc.) para partes de máquinas

Metales ferrosos y no-ferrosos

  • Análisis del componente principal y de impurezas en materias primas, aleaciones, soldaduras y metales preciosos
  • Análisis de composición de escoria

Minería

  • Análisis de grado para procesamiento de minerales

Cerámicas

  • Análisis de cerámicas, cemento, vidrio, ladrillos y arcilla

Petroquímica

  • Análisis de azufre en petróleo
  • Análisis de aditivos y elementos mezclados en lubricantes

Otros

  • Análisis de composición de muestras arqueológicas y piedras preciosas
  • Análisis de metales pesados tóxicos en productos de uso cotidiano

Especificaciones

Principio de medición Espectrometría de Fluorescencia de Rayos X
Método de medición Dispersivo en energía
Tipos de muestras Sólidas, líquidas o polvos
Rango de medición 11Na a 92U (EDX-7000), 6C a 92U (EDX-8000)
Dimensiones del equipo 460 mm ancho x 590 mm profundidad x 360 mm alto
Peso del equipo 45 kg
Dimensiones de la cámara de medición 300 mm ancho x 275 mm profundidad X approx 100 mm alto
Tubo de Rayos X Target de Rh
Voltaje del tubo 4 a 50 kV
Corriente de tubo 1 a 1000 mA
Método de enfriamiento Enfriador de aire (con ventilador)
Área de irradiación Cambio automático en 4 pasos (1, 3, 5, y 10 mm diám)
Filtros primarios 5 tipos + ABIERTO con cambio automático (ABIERTO, #1, #2, #3, #4, y #5)
Tipo de detector Detector semiconductor de silicio SDD (no requiere nitrógeno líquido)
Método de corriente Digital filter count processing
Atmósfera de medición Aire, vacío (opcional), helio (opcional)
Observación de la muestra Cámara CMOS
Evacuación Bomba rotatoria
Nivel de vacío Menor a 50 Pa (sin muestra)
Tiempo de evacuación 2 minutos

Aplicaciones y notas en Notijenck

Cotización

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