SPM-9700

Los microscopios de sonda de barrido aplican a las superficies de las muestras una sonda extremadamente aguda, permitiendo observar imágenes tridimensionales y propiedades locales en grandes amplificaciones.

• Estabilidad y rendimiento: Permite realizar el recambio de muestra sin necesidad de detener la irradiación láser, con una excelente estabilidad de rayo y un menor tiempo de análisis.
• Funciones de visualización 3D: Permite confirmar las imágenes magnificadas en distintas direcciones con sólo utilizar el mouse, e incluso analizar perfiles transversales tridimensionales.
• Fácil operación: Cuenta con una función que guía a los usuarios en los procedimientos, una función de navegación que elimina la incertidumbre sobre la posición de observación, y otras funciones que ayudan a garantizar observaciones rápidas y sin problemas.
• Funcionalidad y expandibilidad: Ofrece una amplia selección de modos de medición y una gran expandibilidad, lo que garantiza mediciones confiables más allá de las muy distintas propiedades que una gran variedad de muestras pueda tener.
• Accesorio WET-SPM para microspcopía de barrido en ambiente controlado: Permite controlar el ambiente de la muestra y sus alrededores (opcional: controlador de temperatura y humedad, unidad de calentamiento y enfriamiento de muestra, unidad de aspersión de gas).
• Software de análisis de partículas: Permite extraer múltiples partículas y calcular, analizar o visualizar cantidades características para cada una, así como procesar estadísticas.

Modos de observación

• Estándar: Contacto Dinámico, Por Fase, Fuerza lateral (LFM) y Modulación de fuerza
• Opcional: Fuerza magnética (MFM), Corriente Potential (KFM) y Potencial de superficie (KFM)

Resolución

• X, Y: 0,2 nm
• Z: 0,01 nm

Cabezal

• Sistema de detección de desplazamiento: Lumínico - Detector por fuente de luz
• Fuente de luz: Diodo láser y soporte irradiado continuamente incluso en el reemplazo de muestras
• Detector: Fotodetector

Scanner

• Elemento de conducción: Tubo de elemento piezoeléctrico
• Rango máximo de barrido (X, Y, Z): 30 µm x 30 µm x 5 µm (estándar), 125 µm x 125 µm x 7 µm (opcional), 55 µm x 55 µm x 13 µm (opcional) y 2,5 µm x 2,5 µm x 0,3 µm (opcional)

Soporte de muestra

• Tamaño de muestra (máx.): 24 mm (diám.) x 8 mm
• Método de reemplazo de muestras: Cabezal y soporte de muestra con sistema de detección de desplazamiento integrado. Las muestras pueden ser reemplazadas sin remover el soporte.
• Modo de fijación de muestras: Mediante soportes magnéticos

Mecanismo de ajuste del eje Z (Macro)

• Método: Automático, por motor de avance, independiente del espesor de la muestra
• Desplazamiento máximo: 10 mm

Panel de visualización

• Cantidad visualizada: La cantidad absoluta que incide en el detector

Amortiguador de vibraciones

• Base anti-vibración: Incorporada a la unidad SPM

Observación por microscopía óptica

• Método: Mecanismo incorporado de división de haz para método óptico

Entorno de muestra

• Método: No específico o con cámara controlada

Control del ambiente

• Método: La cámara para el control del ambiente de la muestra puede incorporarse sin modificar el equipo