El mayor rendimiento de la imagen, la mejora de la resolución en un 20 por ciento, una mayor selección de detectores y el nuevo software, amplían significativamente el rango de aplicación, manteniendo la facilidad de uso que caracteriza a todos los SEM de Phenom-World. Su excelente desempeño ofrece una seria alternativa a los microscopios de piso en aplicaciones que incluyen la ciencia de los materiales, la fabricación industrial, la electrónica y muchas otras más.
Los SEMs de Phenom-World son robustos y no sensibles a las vibraciones; permiten una manipulación fácil de las muestras y entregan una imagen muy rápidamente, unos 30 segundos. Una fuente CeB6 de alto brillo y de larga vida útil proporciona una excelente calidad de imagen incluso en condiciones de bajo vacío al analizar muestras no conductoras. Una interfaz de programación de aplicaciones (API) potente y muy transparente facilita a los usuarios la optimización de imágenes y el procesamiento de imágenes para sus propios flujos de trabajo.Además, en el Phenom ProX, un detector de espectroscopía de rayos X totalmente integrado permite a los usuarios analizar la composición y la distribución de los elementos a escala microscópica.
