Phenom ProX

Generación 5

El microscopio electrónico de barrido (SEM) Phenom ProX se basa en la plataforma SEM de mesada de 5ª generación de Phenom y es un SEM de alto rendimiento para imágenes y análisis. Con el Phenom ProX, las estructuras de las muestras se pueden examinar físicamente y determinar su composición elemental. Además del análisis de puntos, el software opcional de mapeo elemental permite un análisis más detallado de la distribución de los elementos.

Los microscopios Phenom SEM son intuitivos para usar y rápidos para entregar resultados y construidos con estándares de alta calidad. En comparación con sus predecesores, el Generation 5 Phenom ProX tiene una resolución al menos un 20% mejor y cubre una gama más amplia de aplicaciones, incluyendo muestras que son muy sensibles al daño del haz.

El Phenom ProX, microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada, es un sistema “todo-en-uno” que permite realizar tanto tomas de imágenes como análisis por rayos X.

Con este poderoso instrumento, se puede examinar físicamente la estructura de la muestra y determinar su composición elemental.

Más allá del análisis puntal, el programa opcional de mapeo y barrido lineal elemental permite un mejor análisis de la distribución de los elementos dentro de la muestra.

Beneficios

Todos los productos desarrollados por Phenom-World son fáciles de utilizar, rápidos para arrojar resultados, y diseñados según estándares de la más alta calidad. Sobre estos principios se ha basado el desarrollo y la creación del sistema de espectroscopía Phenom ProX, el mejor en su clase para la toma de imágenes y el análisis por rayos X.

Además de visualizar imágenes tridimensionales de estructuras microscópicas, a menudo se necesita identificar los diferentes elementos químicos presentes en una muestra o espécimen. En el mundo del Phenom ProX, esto se logra por medio de un paquete de software para la identificación de elementos (EID) y un espectrómetro dispersivo en energía (Energy Dispersive Spectrometer, EDS) especialmente diseñado y totalmente integrado.

El Phenom ProX es la mejor solución para completar tomas de imágenes y análisis por rayos X de manera fácil y rápida. Esto se refuerza con un portamuestra adicional que permite enfriar e inclinar la muestra y así permitir el análisis por imágenes de una mayor diversidad de muestras.

Detección EDS

Para controlar el detector EDS integrado en el sistema, en la PC Pro Suite viene incluido e instalado un paquete de software específico. De este modo, el análisis resulta tan sencillo como la toma de imágenes, ya que no se necesita alternar entre paquetes de software externos o entre computadoras. La técnica EDS analiza los rayos X generados por los electrones del rayo al interactuar con la muestra. La fuente de electrones Phenom CeB6 genera la mayor cantidad de rayos X en el segmento de mercado.

Mediante el modo de análisis puntual, el paquete de software permite identificar cualquier elemento escondido en la muestra. Todos los resultados son verificados utilizando una deconvolución extractiva iterativa del pico. El proceso guiado paso a paso en el software ayuda a obtener todos los resultados de rayos X de forma organizada y estructurada. Además, el software puede ser expandido con la opción de mapeo elemental y barrido lineal.

Mejoras

El mapeo de elementos revela la distribución de elementos dentro de la muestra. Para ello, el usuario puede seleccionar los elementos, la resolución de píxel y el tiempo de recolección. Un algoritmo de mapeo en tiempo real va mostrando el crecimiento de los mapas de los elementos seleccionados, y almacenando a la vez los espectros de cada píxel. Esto permite agregar o quitar elementos en cualquier momento, durante el proceso de mapeo o después. La posibilidad de mezclar cualquier número de elementos con la imagen óptica le permite al usuario ver claramente la distribución de elementos dentro de la muestra.

El mapeo puede realizarse tanto en la imagen completa como en un área seleccionada (SA). Se puede seleccionar cualquier área rectangular de la imagen.

El barrido lineal permite realizar el análisis barriendo una línea fácilmente seleccionable por el usuario. El número de puntos y el tiempo dedicado a cada uno de ellos se pueden seleccionar en forma individual. En pantalla se muestra el perfil lineal de todos los elementos seleccionados, y los resultados son fácilmente informados y exportables a través de plantillas automáticas. Así se puede realizar una larga secuencia de múltiples análisis sin necesidad de la intervención del usuario.

Medidas y peso

Módulo de toma de imágenes	286(ancho) x 566(prof.) x 495(alt.) mm, 50 kg
Bomba de vacío de diafragma	145(ancho) x 220(prof.) x 213(alt.) mm, 4,5 kg
Alimentación	156(ancho) x 300(prof.) x 74(alt.) mm, 3 kg
Monitor	375(ancho) x 203(prof.) x 395(alt.) mm, 7,9 kg
Pro Suite	375(ancho) x 250(prof.) x 395(alt.) mm, 9 kg

Sistema estándar Pro Suite que incluye un monitor de 19” con una PC y router incorporado

Modos de toma de imágenes

Óptico	Aumento: 20-135x
Electrónico	Aumento: 80-130.000x. Zoom digital máximo: 12x

Iluminación

Óptico	Modo de campo brillante y opaco
Electrónico	Fuente termoiónica de larga duración (CeB6). Selección de corriente para modos de trabajos (bajo, imagen, análisis puntual y mapeo)
Potenciales de aceleración	5 kV, 10 kV y 15 kV modo imagen y análisis
Resolución	≤ 14 nm

Detección digital de imágenes

Óptico	Cámara de navegación a color
Electrónico	Detector de electrons retrodifundidos de alta intensidad (modos composicional y topográfico)
Formato de imagen	JPEG, TIFF, BMP
Opciones de resolución	456 x 456 píxeles, 684 x 684 píxeles, 1024 x 1024 píxeles, 2048 x 2048 píxeles
Almacenamiento de datos	Memoria USB, Red, PC Pro Suite
Plataforma de muestreo	Controlada digitalmente con motorización X e Y
Tamaño de muestra	32 mm (Ø); 100 mm (h)
Tiempo de carga de muestra	Óptico: < 5 seg. Electrónico: < 30 seg.

Detector

Tipo	Silicon Drift Detector (SDD). Thermoelectrically cooled (LN2 free)
Área activa	22 mm2
Ventana de rayos X	Ventana ultradelgada de nitruro de silicio (Si3N4) que permite la detección de elementos de C a Am
Resolución en energía	Mn Kα ≤ 140 eV
Procesamiento	Analizador multi-canal con 2048 canales a 10 eV por canal
Frecuencia máxima de conteo	300.000 cps
Integración de hardware	Completa
Software	Integrado en Phenom Pro Suite. Identificación automática de picos. Deconvolución extractiva iterativa del pico. Funciones de exportación: CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
Reportes	Formato DOCX

Mapeo de elementos

Selección de elementos	10 mapas individuales personalizados, más imagen mixta y difuminada. Área seleccionada de cualquier tamaño, rectangular
Resolución	16x16 - 512x512 píxeles
Tiempo de permanencia en píxel	10 – 250 mseg.

Barrido lineal

Resolución	16 - 512 píxeles
Tiempo de permanencia unitario	50 – 250 mseg.
Número de líneas total	12