Phenom XL
Microscopio electrónico de barrido (SEM) de mesada
Permite realizar tanto una toma de imágenes como un análisis por rayos X (opcional) para aplicaciones en la escala submicrónica en muestras de hasta 100 mm x 100 mm
O llamanos al (011) 4014-5300.
Descripción
El microscopio electrónico de barrido Phenom XL corre los límites de desempeño de los instrumentos compactos de mesada. Ofrece la misma facilidad de uso y velocidad que cualquier otro sistema Phenom.
La diferencia con los otros modelos, como el Phenom Pro y ProX, es que el Phenom XL está equipado con una recámara que permite analizar muestras grandes, de hasta 100 mm x 100 mm.
Su novedoso mecanismo de carga y venteo asegura el ciclo de carga de muestra más rápido del mundo, y por lo tanto el mayor rendimiento.
El desarrollo de un nuevo portamuestra motorizado permite barrer toda la superficie de la muestra (hasta 100 mm x 100 mm), y aun así el Phenom XL es un microscopio electrónico de mesada que requiere poco espacio y ninguna instalación especial.
La cámara de navegación óptica del Phenom XL facilita todavía más el uso del instrumento, gracias a que permite desplazarse hacia cualquier punto de la muestra con un solo clic.
Características
Máxima capacidad de muestras
El barrido motorizado permite analizar muestras de hasta 100 mm x 100 mm
EDS totalmente integrada
La determinación de elementos es tan sencillo como la toma de imágenes, con la EDS totalmente integrada
Gran desempeño y velocidad
El ciclo de carga es el más rápido del mundo
Detección de electrones secundarios
El detector de electrones de baja energía permite obtener información topográfica y superficial sobre la muestra
Navegación óptica continua
La visualización óptica permanente facilita la navegación hacia cualquier región de la muestra
Especificaciones
| Magnificación óptica | 3 - 16x |
| Magnificación electrónica | 80 – 100.000x |
| Resolución | ≤ 20 nm |
| Zoom digital | Máx. 12x |
| Cámara de navegación óptica | Color |
| Potenciales de aceleración | 5 kV, 10 kV y 15 kV. En modo avanzado: ajustable entre 4,8 kV y 15 kV en intervalos de 0.1 KV |
| Modos de vacío | Modo estándar. Modo de reducción de carga. Modo de alto vacío |
| Detector | BSD. SED (opcional). EDS (opcional) |
| Tamaño de muestras | Máx. 100 mm x 100 mm. Soportes de muestra de hasta 36 x 12 mm |
| Altura de muestras | Máx. 65 mm |
Aplicaciones y notas en Notijenck
Cotización
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